貼片電感機器視覺設(shè)備檢測電感外觀方案
作者 : 思普泰克智能制造發(fā)布時間 : 2020-01-09 瀏覽 : 215 次
注明：貼片電感機器視覺設(shè)備，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于300件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
外觀檢測
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 | 備注 |
| 1 | 中間隔離區(qū)多錫 | 底部正光檢測 | 可檢 | 暗裂打光不明顯（不可檢） |
| 2 | 錫面缺陷 | 底部正光檢測 | 可檢 |
|
| 3 | 表面破損 | 頂部正光檢測 | 可檢 |
|
| 4 | 堆錫、錫尖 | 側(cè)面背光檢測 | 可檢 |
|
| 5 | 繞線反、滑線頭、線未入槽 | 側(cè)面 | 不可檢 |
|
| 6 | 線超外圍 | 不可撿 | 樣件為圓形、側(cè)面檢測無法擺正位置、存在相機拍攝死角 |
注明：以上檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于300件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300標準檢測設(shè)備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業(yè)相機 | Barsler工業(yè)相機 | 4套 |
| 5 | 相機調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 4套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 4套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 4套 |
| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺 | 1套 |
| 9 | 伺服電機 | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
設(shè)備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：隔離區(qū)連錫
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：錫面不均
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：鍍銀發(fā)黑
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：破損
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：電鍍面反
側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：錫尖
側(cè)部背光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：堆錫
更多產(chǎn)品檢測方案可登陸安徽思普泰克官網(wǎng)查閱：www.yto5.com.cn
三、樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：隔離區(qū)連錫
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：錫面不均
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：鍍銀發(fā)黑
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：破損
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：電鍍面反
側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：錫尖
側(cè)部背光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：堆錫
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